Тестер LCR МУЛТИФУНКЦИОНАЛЕН ТЕСТЕР НА ЕЛЕКТРОННИ ЕЛЕМ. 1LCR-T5 Mega328 Transistor Tester Diode Triode Capacitance ESR Meter MOS/LCR/PNP ESR-micro V4.0

Тестер LCR МУЛТИФУНКЦИОНАЛЕН ТЕСТЕР НА ЕЛЕКТРОННИ ЕЛЕМ. 1LCR-T5 Mega328 Transistor Tester Diode Triode Capacitance ESR Meter MOS/LCR/PNP ESR-micro V4.0 ЗА LCR МУЛТИФУНКЦИОНАЛЕН ТЕСТЕР НА ЕЛЕКТРОННИ ЕЛЕМ. Универсален тестер на биполярни и полеви транзистори, диоди, симистори /траци/, тиристори, кондензатори, резистори, бобини. На течно кристалния дисплей автоматично се изписва вида на елемента с графичното му означение, на кой номер извод - съответния извод на елемента и основните параметри на елемента. Тестера се предлага в комплект с нужните части за сглобяване на кутия. Функции : тест на собственото захранващо напрежение. Автоматично откриване на NPN и PNP транзистори, n-канал и р-канален MOSFET, диод (включително двойни диоди), тиристор, транзистор, резистор, кондензатор, бобина и други компоненти Автоматичен тест на щифта на компонента, след което показва резултата на дисплея. Може да открие транзистора, MOSFET коефициент на усилване и определяне на изводите /E, B, K, G, D, S/ Измерване на прага на напрежение и MOSFET капацитета на порта. Висока изпитателна скорост, валидността на компонента за теста за 2 секунди (с изключение на големите кондензатори, които се нуждаят от много време, около 1 минута) Режим на ниска консумация: по-малко от 20 mA Автоматична функция за изключване, за да се пести заряда на батерията и подобряване на живота на батерията. Използва 128 х 64 дисплей с течни кристали (128 х 64 точки на решетката) Особености: 1. Използва ATmega8, ATmega168 или ATmega328 микро-контролер. 2. 2 x16 LCD дисплей показва резултатите. 3. Една от екстрите е автоматично изключване на захранването 4. Изключва захранването само под 20 mA, за защита работата на батерията 5. Ниска цена на версия без кристали, поддържа автоматично захранването. Когато не се изплзва, тя ще вклющи спящ режим, за да се намали консумацията на енергия за 1.05k версията на софтуера ATmega168 или ATmega328. 6. Автоматично откриване на PNP и NPN биполярен транзистор, N канал и P канал MOSFET, JEFT, диод, двоен диод, тиристор SCR. 7. Автоматично откриване на ПИН подредбата. 8. Измерване на коефициента на усилване на биполярен транзистор и прага на напрежение на емитера. 9. Дарлингтон транзисторите могат да бъдат идентифицирани чрез висок праг на напрежение и висок токов фактор. 10 Биполярения транзистор и MOSFET с вграден диод. 11. Измерване на капацитетната стойност на прага на MOSFET. 12. Възможност за измерване на два резистора, като дисплея, показва. Според съпротивлението къде е свързана в двата края на броя тестери (1-3). Така потенциометъра също може да бъде измерван. Потенциометъра трябва да бъде свързан изцяло на три различни крачета. 13. Резолюцията на измерване на съпротивление е 0.1ohms, а най-високата измерена стойност е 50 мега ома 14. Кондензатора може да се тества и измерва. Стойностите могат да варират от 25pf (8MHz , 50pf @ 1MHz) до 100mf. Резолюция може да достигне 1pF (@ 8MHz) 15. Може да се измери повече от 2uf числено резистентност на кондензатора еквивалентна на серията (ESR).Тази функция изисква поне 16k флаш ATMEGA (ATmega168 или ATmega328) 16. Двата диода могат да бъдат показани от дясната страна. 17. Ако напрежението е по-ниско от 4.5V, диодите могат да бъдат засечени.Tака ще бъдат показани като два диода, които могат да се определят само от напрежението. 18. Повече от три диода не могат да се измерят, няма да показва точни резултати. 19. Биполярен транзистор може да се измери и, ако се свърже с базата и колектора и емитера 22. Стойност по-малка от 25pf на кондензатора обикновено е неоткриваема, но може да бъде с един диод, паралелно свързан или поне 25pf кондензатор в паралел. 23.Ако устойчивостта е по-малка от 2100ohms може да се измери индуктивността, ако си ATMEGA и има поне 16k флаш памет. Повече от 20 часа ще варира от 0: 01mH, но точността не е добра. Резултати от измерването показват само за свързани елементи 24. Теста трае около две секунди, само за измерването на капацитет и индуктивност им трябва повече време. 25. Софтуера може да се зададе редица измервания преди захранването да стане автоматично. 26. Вградена функция за самодиагностика и опция проверка при 50Hz (ATmega168 и ATmega328) 27. Допълнително калибриране на портовете за изход и възможност за самопроверка (ATmega168 и ATmega328). Нуждаете се от 100nF до 20uf капацитет, свързан към PIN1 и PIN3 компенсация между аналогов компаратор компенсира напрежението. Ако тестовия ток надвишава допостимият , SCR и TRIAC могат да бъдат открити. Но някои полупроводникови силициеви преобразуватели и двупосочен тиристор може да осигури по-висок ток. Тестовия ток е само около 6 mA. В този случай може да се покажат като транзистори. Подробни данни и характеристики може да видите в "допълнителна информация" за продукта Tърговска гаранция: 6 месеца ХАРАКТЕРИСТИКИ вид тестер обхвати-видове автоматични измерване-видове DCV-постоянно напрежение R - съпротивление C - капацитет L - индуктивност hfe - усилване на транзистори тест на диоди Тегло (кг.) 0.140